吉时利4200-SCS半导体特性分析系统
简 述：
4200-SCS半导体特性分析系统是用于器件、材料和半导体工艺参数分析的完整解决方案。这种先进的参数分析仪具有无可比拟的测量灵敏度和精度，同时继承了嵌入式Windows操作系统和吉时利交互式测试环境，为半导体科研及产业用户进行半导体器件特性分析提供了直观而高级的功能
特征：
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运行 Clarius SWon Win7 嵌入式计算机的直观、触摸屏界面。独特的可选远程前置放大器将 SMU 的分辨率扩展至 10 aACV 仪器使 CV 测量像 DC IV 一样简单用于高级半导体测试的脉冲和脉冲 IV 功能示波器卡提供集成的示波器和脉冲测量功能独立的 PC 提供快速的测试设置、强大的数据分析、图形和打印以及测试结果的板载大容量存储。配备嵌入式测量专业知识和数百个即用型应用测试，用于点击式可靠性测试的内置压力/测量、循环和数据分析，包括五个符合 JEDEC 标准的样品测试集成支持各种 LCR 仪表、Keithley 开关矩阵配置以及 Keithley 3400 系列和 Agilent 81110 脉冲发生器包括用于领先分析探针的软件驱动程序
吉时利 4200A-SCS 半导体参数分析仪表征系统执行实验室级 DC 和脉冲器件表征、实时绘图和分析，具有高精度和亚 fem 到安培的分辨率。Keithley 4200A-SCS 提供同步电流-电压 (IV)、电容-电压 (CV) 和超快脉冲 IV 测量。
吉时利4200-SCS型半导体特征分析系统主要特点及优点：
●直观的、点击式Windows操作环境
●独特的远端前置放大器，将SMU的分辨率扩展至0.1fA
●用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能
●集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡
●内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储
●独特的浏览器风格的软件界面，根据器件的类型来安排测试，可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能
●内置了Stress/Measure，循环和数据分析功能，通过鼠标点击方式就可进行可靠性测试，包括5个JEDEC规范的样品测试
●支持 Keithley590 型与 Agilent 4284/4294型C-V仪、Keithley开关矩阵与Agilent 81110脉冲发生器等多种外围设备
●硬件由keithley交互式测试环境（KITE）来控制，用户测试模块功能，可用于外接仪表控制与测试平台集成，是KITE功能的扩充
●包括驱动软件，支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300，Micromanipulator 的8860自动和手动探针台
●支持先进的半导体模型参数提取，包 括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso
keithley吉时利4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析，具有高精度和亚fA级的分辨率。keithley吉时利4200-SCS提供了进的系统集成能力，包括完整的嵌入式PC机，WindowsNT操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程，这样用户可以更快地开始分析测试结果。
KEITHLEY吉时利4200-SCS 相关应用：
●半导体器件
●片上参数测试
●晶圆级可靠性
●封装器件的特性分析
●使用Model4200-SCS控制外部LCR表进行C-V、I-V特性分析
●高K栅电荷俘获
●易受自加热效应影响的器件和材料的等温测试
●电荷泵方法分析MOSFET器件的界面态密度
●电阻式或电容式MEMS驱动特性分析
●光电器件
●半导体激光二极管DC/CW特性分析
●收发模块DC/CW特性分析
●PIN和APD特性分析
●科技开发
·碳纳米管特性分析
●材料研究
●电化学
本公司回收以下品牌各类仪器：
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