低温环境XRD(X-ray diffraction，简称XRD)是用于研究材料的结构、晶体学和晶格参数的非常有效的技术。常规的XRD实验通常是在室温下进行的，但某些材料在低温条件下会表现出特殊的物理和化学性质。
低温环境XRD使用的仪器与常规XRD类似，主要由X射线源、样品支撑台、样品旋转台、X射线探测器和数据记录系统等组成。但与常规XRD不同的是，使用了特殊的低温装置，如制冷剂(如液氮或制冷机)来降低样品的温度。
在实验中，样品的温度是一个关键参数。通过将样品的温度降低到低温环境下，我们可以观察到难以在常温下观察到的物理和化学性质。例如，一些材料在低温下可能会产生新的晶体相变或者结构变化，可以用于研究这些变化的机制和性质。此外，低温环境下，一些晶体的热运动会降低甚至消失，从而使得X射线衍射的分辨率更高，可以更准确地确定晶格参数。
在进行实验时，需要注意的是样品的制备和装载。通常情况下，样品是以粉末或者片状形式制备的，然后通过特殊的夹持装置将其固定在样品支撑台上。在低温实验中，为了保持样品的低温状态，通常会采用制冷剂将样品冷却，然后通过样品旋转台实现360度旋转，以获得衍射数据。
使用低温环境XRD的一般步骤如下：
1.准备样品：选择适当的样品，并将其制备成合适的形态，例如粉末、薄膜或晶体。
2.调节低温环境：使用合适的冷却装置，如液氮罐、冷却气体或制冷机，将样品冷却到所需的低温。
3.调节X射线仪器：根据样品的要求，调节X射线仪器的参数，例如X射线管电压和电流、滤波器和接收器的角度等。
低温环境XRD
http://www.peakscience.com.cn/SonList-2149853.html
https://www.chem17.com/st383495/product_34949893.html
