FT230采用X射线荧光光谱技术，通过X射线激发样品产生特征荧光，由硅漂移探测器（SDD）检测并分析镀层厚度和元素成分。该技术具有无损检测、精度高、重复性好的特点，适用于半导体、电子制造、金属表面处理等高端制造领域。
一、高性能SDD保障检测精度
FT230配置的硅漂移探测器具备三大核心优势:
l 高分辨率：精准分离相邻特征峰
l 快速采集：满足高通量检测需求
l 低噪声特性：可靠检测磷等低能量元素
这使其成为化学镀镍检测的理想选择，其中磷元素的精确测量对镀层性能至关重要。
二、产品特点
1、快速分析：自动聚焦加快样品装载速度，即使在不同形状和尺寸的 组件之间切换时依然如此。
2、快速设置：智能识别功能 Find My Part™(查找我的样品) 会自动选择 正确的分析程序，并找到正确的分析点。
3、出色的可视性：仪器可选配广角相机，在更大面积上显示样品视图。这一功能加上可调节的发光二极管照明装置，使得精确目标区域变得容易。
三、产品优势
传统XRF检测中高达72%的时间耗费在准备工作阶段。FT230通过以下创新功能彻底解决这一痛点：
l Find My Part™（查找我的样品）：通过机器视觉技术自动载入检测方案（含校准程序、准直器尺寸及分析参数）
l 自动对焦系统：缩短60%准备工作时间，实现无距离限制测量
l 广角观测摄像头：提升20%效率，特别适用于大型复杂工件
这些功能协同工作，每年可为每位操作人员节省约150工时。
四、应用领域：电子制造与金属表面处理
FT230作为一款多功能XRF分析仪，能够广泛适用于电子制造与金属表面处理行业的各种应用场景。该仪器在精密测量印刷电路板（PCB）上的金、镍、铜镀层方面表现卓越，可确保电子元器件的可靠性能。
在连接器镀层检测中，它能精准验证锡、银、镍等镀层的厚度与成分，这些参数对导电性与耐腐蚀性至关重要。针对塑料电镀应用，FT230可确保非导电基材上的金属沉积均匀性，为装饰性与功能性镀层的质量控制提供支持。此外，该仪器同样适用于通用金属表面处理任务，能够精准分析复杂多层镀层与合金成分。
五、公司介绍
深圳市谱赛斯科技有限公司成立于2014年，公司坐落于深圳工业重沙井，公司是从事仪器研发、生产、制造和进口仪器代理销售及技术支持服务为一体的科技企业，公司长期以来和日本日立保持着友好合作伙伴关系，我们一直是日立分析仪器正式授权的销售、服务代理。
