X射线荧光测厚仪标准片，美国Calmetrics标准片

产品价格￥2000.00元/个

产品品牌美国Calmetrics

最小起订≥1 个

供货总量10000 个

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更新日期2021-02-25 16:07

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商品信息

基本参数

品牌：	美国Calmetrics
所在地：	广东广州市
起订：	≥1 个
供货总量：	10000 个
有效期至：	2022-01-13 [已过期]
厚度：	0.005um~50um

详细说明

Calmetrics标准片是美国原厂制作标准片的专业认证公司并通过A2LA(American Association forLaboratory Accreditation)，其也是目前世界上公认做的的公司。
测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。其专门为仪器大厂如Fischer(菲希尔)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）、ELEC FINE (日本电测)Thermo（热电）、Veeco、Micro Pioneer等生产制作标准样品。应用：适用于Fischer(菲希尔)、Oxford（牛津）、Seiko（精工）ELEC FINE (日本电测)、Thermo（热电）、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray测厚仪（膜厚计）。
所有标准片都附有NIST认证证书我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的标准片，并附有标准片厚度值证书.